عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۶,۴۵ ثانیه یافت شد.
1. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کتابخانه ها)
پدیدآورنده :
کتابخانه:
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
(
طهران
)
موضوع :
، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Testing
رده :
»
1
«
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح